X射线衍射（XRD）和透射电子显微镜（TEM）在晶体结构分析中各有其独特的优势与局限。
XRD的优势主要体现在：
1. 广泛适用性：XRD能够分析各种晶体结构，适用于多种材料。
2. 非破坏性：分析过程中不会对样品造成破坏。
3. 快速检测：XRD分析速度快，可以在短时间内获得晶体结构信息。
4. 经济高效：相对其他方法，XRD成本较低，效率较高。
XRD的缺点包括：
1. 分辨率限制：对于某些小角度或微小晶粒，XRD的分辨率有限。
2. 难以分析非晶态：XRD对非晶态物质的分析效果不佳。
3. 需要单晶样品：XRD通常需要单晶样品进行测试。
TEM的优势包括：
1. 高分辨率：TEM的分辨率极高，能够观察到原子级别的结构。
2. 实时观察：TEM可以在不破坏样品的情况下，实时观察晶体结构的变化。
3. 适用于非晶态：TEM不仅可以分析晶体结构，还可以研究非晶态材料。
TEM的缺点有：
1. 样品制备复杂：TEM需要特殊的样品制备方法，对样品的形态和尺寸有严格要求。
2. 成本较高：TEM设备昂贵，运行和维护成本也较高。
3. 非破坏性有限：尽管TEM是非破坏性测试，但在某些操作中仍可能对样品造成轻微损伤。
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